某过程USL=100，LSL=80，标准差σ=2，过程均值μ=92。则Cpk的值为？
A. 1.33 B. 2.0 C. 1.67 D. 1.5
答案：A。Cpk = min[(USL-μ)/(3σ), (μ-LSL)/(3σ)] = min[(100-92)/(3×2), (92-80)/(3×2)] = min[8/6, 12/6] = min[1.33, 2.0] = 1.33。注意：Cpk取较小值一侧！选A：1.33。
Cp和Cpk的关系，以下正确的是？
A. Cp ≥ Cpk 恒成立 B. Cpk ≥ Cp 恒成立 C. Cp = Cpk 恒成立 D. 两者无固定关系
答案：A。Cp ≥ Cpk 恒成立。Cp衡量潜在过程能力（假设过程居中），Cpk衡量实际过程能力（考虑偏移）。当过程均值恰好位于规格中心时，Cp = Cpk；过程均值偏离中心越大，Cpk比Cp小得越多。
Cp和Pp的主要区别在于？
A. Cp用总体标准差，Pp用样本标准差 B. Cp衡量短期能力（组内变异），Pp衡量长期能力（整体变异） C. Cp用于属性数据，Pp用于连续数据 D. Cp和Pp完全相同
答案：B。Cp使用组内标准差（Rbar/d2或Sbar/c4）衡量短期/潜在能力；Pp使用整体标准差（所有数据的s）衡量长期/实际表现。在考试中，若问题有"长期"或"短期"关键词，优先按此区分。
六西格玛水平（6σ）对应的DPMO（每百万机会缺陷数）约为？
A. 3.4 B. 233 C. 6210 D. 66807
答案：A。六西格玛水平（含1.5σ偏移）对应的DPMO约为3.4。各西格玛水平DPMO参考值：3σ→66807，4σ→6210，5σ→233，6σ→3.4。这是基础记忆型考点。
某过程Cpk=0.8，以下判断正确的是？（多选）
A. 过程能力不足，需要改进 B. 过程勉强达到1.33标准 C. 可能存在较大的过程偏移 D. 缺陷率可能较高
答案：ACD。常规标准：Cpk<1.0为能力不足；1.0≤Cpk<1.33为勉强可接受；Cpk≥1.33为能力充足。Cpk=0.8说明过程中可能存在偏移和/或变异过大，对应较高的缺陷产出。B错误：0.8远低于1.33。
学习小贴士：过程能力是考试必考内容。关键区分：Cp（短期潜在能力）vs Cpk（短期实际能力）vs Pp（长期潜在能力）vs Ppk（长期实际能力）。理解"Cp≥Cpk"和"Pp≥Ppk"恒成立、以及Cpk<1.0意味着过程能力不足的能力评级标准。
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