| 数据类型 | 子组大小 | 推荐控制图 | 考试频率 |
|---|---|---|---|
| 连续数据 | n=1（单值） | I-MR图（单值-移动极差图） | ★★★★ |
| 连续数据 | 2≤n≤10 | Xbar-R图（均值-极差图） | ★★★★★ |
| 连续数据 | n>10 | Xbar-S图（均值-标准差图） | ★★★ |
| 离散-计数型 | 子组大小恒定 | NP图（不合格品数图） | ★★★ |
| 离散-计数型 | 子组大小不恒定 | P图（不合格品率图） | ★★★★ |
| 离散-计点型 | 子组大小恒定 | C图（缺陷数图） | ★★★ |
| 离散-计点型 | 子组大小不恒定 | U图（单位缺陷数图） | ★★★ |
| 准则 | 描述 | 含义 |
|---|---|---|
| 1 | 1点超出±3σ控制限 | 过程失控（最直接的信号） |
| 2 | 连续9点在中心线同一侧 | 过程均值发生偏移 |
| 3 | 连续6点持续上升或下降 | 趋势（如工具磨损） |
| 4 | 连续14点上下交替 | 系统性周期（如班次差异） |
| 5 | 连续3点中2点>2σ（同侧） | 过程漂移的早期预警 |
| 6 | 连续5点中4点>1σ（同侧） | 过程漂移的更早预警 |
| 7 | 连续15点在±1σ内 | 数据过度集中（可能分层） |
| 8 | 连续8点在±1σ外（两侧） | 混合分布（如两台设备差异） |
I-MR用于单个测量值（n=1），如每班只测一次；Xbar-R用于子组（n≥2），如每次测5件。决策：看子组大小。
绿带重点考前4条（出界、9点同侧、6点趋势、14点交替），黑带8条都涉及。共同逻辑：非随机模式=特殊原因。
通用：中心线±3×标准差。Xbar图：Xbar-bar±A2×Rbar。考试通常给常数表，重在正确选图+判读。
SPC是六西格玛控制阶段的灵魂。掌握控制图的选择和判读是考试中保证15%分值的关键技能。同创云课堂课程配有完整SPC案例演练。
