今日 5 道练习题，请先独立思考，再查看每题答案和解析。
第1题（来源：2017年六西格玛黑带真题【黑带】）
稳健参数设计(田口方法)中的误差因素,指的是:
A.元器件参数所取数值的误差
B.用户使用环境条件变化形成的误差
C.重复试验中的随机误差
D.产品制造过程中工艺条件变化形成的误差
正确答案：A,B,D
解析：《六西格玛黑带》第九章 P537
A. 这确实是一种误差因素，因为元器件参数的变化会影响产品性能。
B. 这也是一种常见的误差因素，因为产品在不同的环境条件下可能会表现出不同的性能。
C.这种误差通常与实验过程本身的不确定性有关，而不是产品设计的一部分。然而，在田口方法中，通过重复试验和统计分析来减少这种类型的误差。
D.这是另一种重要的误差因素，因为制造过程中的变化可以直接影响产品的质量和性能。
综上所述，所有这些选项都是可能的误差因素，但在稳健参数设计的背景下，通常更关注那些可以在设计阶段通过参数选择来控制和减少的误差因素。因此，选项A.B和D都是田口方法中考虑的误差因素。
第2题（来源：2017年六西格玛黑带真题【黑带】）
在2水平全因子试验中,通过统计分析发现因子C及交互作用A*B是显著的,而A,B,D均不显
著,则在选取最佳方案时,应考虑:
A.找出因子A的最好水平
B.找出因子c的最好水平
C.找出因子A和B的最好水平搭配
D.找出因子D的最好水平
正确答案：B,C
解析：
因子C是显著的，这意味着在试验中，因子C的不同水平对结果有显著影响。因此，在选取最佳方案时，应该考虑找出因子C的最好水平，以优化试验结果。"找出因子C的最好水平"。
交互作用A*B也是显著的，这表明因子A和因子B的组合对结果有显著影响。然而，尽管交互作用显著，但单独的因子A和B并不显著。在这种情况下，选择最佳方案时，应该考虑因子A和B的最好水平搭配，因为它们共同作用对结果有显著影响，即使单独的因子不显著。"找出因子A和B的最好水平搭配"。
因子A.B和D都不显著，这意味着它们在试验中的不同水平对结果没有显著影响。因此，在选取最佳方案时，不需要特别关注找出因子A.B或D的最好水平，因为它们对结果的影响不显著。
因此，正确答案是B和C。
第3题（来源：2017年六西格玛黑带真题【黑带】）
X-R控制图比X-MR(单值移动极差)控制图应用更为普遍的原因在于:
A.X-R图可适用于非正态的过程
B.X-R有更高的检出力
C.X-R图作图更为简便
D.X-R图需要更少的样本含量
正确答案：A,B
解析：《六西格玛黑带》第八章
我们可以想象一下，如果刚开始是I-MR,然后重新设计控制图，更改成X-R,会有什么变化? 组内样本量增加了，则意味着控制限变窄，导致第一 类错误a不变，第二类错误β较少。第二类错误β较少意味着什么?检出力1-β增大了，有更高的检出力。如果说I-MR的原始数据不正态，l-MR是不是不能使用?因为控制图的判异原则是基于正态分布的理论，都不是正态了，还怎么判定呢? 然后，X-R则不一样，我们都知道中心极限定理，均值的分布是呈正态的，X-R是可以使用判异原则的。因此，即使原始数据非正态，但均值是正态的。 在控制阶段的综合知识，没有具体的页数。
第4题（来源：2017年六西格玛黑带真题【黑带】）
在控制图的应用中,可灵敏地检测过程均值发生小偏移的控制图有:
A.平均值和极差控制图
B.累积和(CUSUM)控制图
C.指数加权滑动平均(EWMA)控制图
D.单值和移动极差控制图
正确答案：B,C
解析：A. 这种控制图可以检测过程中心的偏移，但对小的偏移不如其他一些控制图敏感。
B. CUSUM控制图对过程均值的小偏移非常敏感，特别是当偏移持续存在时。它通过累积偏差来检测过程的变化。
C. EWMA控制图同样对小的持续性过程变化非常敏感，它通过给予近期数据更多权重来实现这一点。
D. 这种控制图对过程的单个观测值非常敏感，可以快速检测出过程的变化，包括均值的偏移。
在这些选项中，CUSUM和EWMA控制图特别设计用于检测小的持续性过程变化，因此它们对过程均值发生小偏移的检测更为灵敏。而单值和移动极差控制图虽然对单个观测值的变异非常敏感，但对过程均值的小偏移可能不如CUSUM和EWMA敏感。平均值和极差控制图通常用于检测较大的偏移。
因此，正确的选项是 B 和 C。
第5题（来源：2017年六西格玛黑带真题【黑带】）
在芯片生产车间,每天抽8块芯片检查其暇疵点个数.为了监测暇疵点数,对于控制图的选用,
下列正确的是:
A.使用C控制图最方便
B.也可以使用U控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便
C.也可以使用p控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便
D.使用np控制图,效果和C控制图相同
正确答案：A,B
解析：《六西格玛黑带》第八章 P471
扩展知识点：
1. C控制图：适用于计数数据，比如缺陷数、错误数等。它用来监测单位产品（或单位面积、单位长度等）中的缺陷数。
2. U控制图：也适用于计数数据，但用于监测单位产品中的缺陷数的平方根。当样本量较小时，使用U控制图更为合适。
3. p控制图：适用于二项分布数据，监测的是单位产品中的不合格品率。它通常用于检测每单位产品（如每块芯片）的不合格率。4. np控制图：适用于监测样本中不合格品的数量。当样本量较大时，使用np控制图更为合适。
由于每天检查8块芯片，样本大小是固定的，这种情况下:
A：使用C控制图最为方便，因为每个样本的大小固定，恰好符合C控制图的要求。
B：U控制图也可以使用，因为它同样适用于计数型数据，但可能会更适用于缺陷数与单位面积相关的情况。尽管使用U控制图也能进行监测，但在样本大小固定的情况下，C控制图更为直接和方便。
C：p控制图可能不如C控制图方便，因为p控制图通常用于样本大小不一致的情况下，每个样本的缺陷比例进行监控。
D：使用np控制图效果与C控制图相同的说法是错误的。np控制图适用于样本大小不一致的情况，比如不同天的样本量不同，而在这个案例中，每天的样本大小是固定的。因此，正确答案是A和B。使用C控制图是最直接和方便的选择，U控制图也可以使用。
乌鲁木齐考生加油，每天进步一点点！
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